南开大学新物质结构分析平台物镜/聚光镜球差校正电镜（JEM-ARM200F NEOARM）的主要功能已经基本调试完成。两台电镜即日起对校内外开放试运行，欢迎预约测试！

物镜球差校正电镜

 

一、基本参数

型号：JEM-ARM200F NEOARM

厂家：日本电子（JEOL）

分辨率：TEM线分辨率为0.07nm(200KV)，0.07nm (80KV)；STEM分辨率为0.19nm(200KV) ，能量分辨率£0.33eV

放大倍数：TEM模式50X-2,000,000X，STEM模式200X-150,000,000X

加速电压：TEM模式200KV-80KV，STEM模式200KV

能谱仪：超巨EDS系统，探测面积约200mm²，超级固体角 1.7sr

EELS：Gatan GIF 1069能量损失谱系统带原位功能，配备K3相机

二、应用领域

该电镜为冷场发射透射电镜，具备SAED、HRTEM、EELS、EFTEM、EDS、HAADF、BF等多种表征功能，可应用于纳米颗粒、金属、半导体等材料的结构与元素分析。电镜的低压成像功能（80KV）可适用于表征石墨烯等不耐电子束辐照样品的晶体结构。电镜尤其配备K3相机，可实现低剂量成像和原位实验，并可通过在电镜内引入多种外场条件，实时解析材料实际服役时晶体结构的动态变化过程。

聚光镜球差校正电镜

 

一、基本参数

型号：JEM-ARM200F NEOARM

厂家：日本电子（JEOL）

分辨率：STEM图像分辨率0.0707nm(200KV)，0.1045nm(80KV)，0.164nm(30KV)；TEM线分辨率0.10nm(200KV)，0.11nm (80KV)；能量分辨率£0.33eV

放大倍数：TEM模式50X-2,000,000X，STEM模式200X-150,000,000X

加速电压：STEM模式200KV-80KV-30KV，TEM模式200KV-80KV

能谱仪：超巨EDS系统，探测面积约200mm²，超级固体角 1.2sr

EELS：Gatan GIF 1065能量损失谱系统

二、应用领域

该电镜为冷场发射透射电镜，具备SAED、HRTEM、EELS、EFTEM、EDS、HAADF、e-ABF和BF等多种表征功能，可应用于纳米颗粒、金属、半导体、氧化物等材料的结构与元素分析。利用e-ABF和HAADF可分别对材料内的轻元素（H、O、C等）和重元素（Fe、Zn、Cd等）的原子占位同时成像，并同时利用EELS和super EDS功能得到原子尺度的元素价态、电子云密度分布图，解析原子尺度的晶体结构和电子结构。尤其配备低电压（30KV）全新自动像差矫正系统，快速直接地观测多种电子束敏感样品的精细结构。

样品要求：

1.为保护透射电镜，送样前需确保样品干燥、干净；
2.对于必须低电压（80KV、30KV）表征的样品，需提前三周告知测试老师。
3.不接收磁性样品，测试需详细告知样品元素成分。

预约请登录：请登录南开大学大型仪器共享管理平台（http://less.nankai.edu.cn）进行预约

地点：南开大学八里台校区天南楼A座102

联系人：章老师17526884991

发布单位：南开大学大型仪器管理平台