生产厂家:
Kratos Analytical Ltd.
- 主要规格及技术指标
- 1.使用slot mode下银标样的最小分辨率为0.48 eV;2.灵敏度大于2.5*105 CPS;3. 选区XPS(最小选区为15um,最大选区为110um)
- 主要功能及特色
- 大面积XPS,选区XPS(最小15μm),XPS成像,AES,UPS,ISS等。主要用于固体及其薄膜样品表面的组成、化学状态分析,能进行定性、半定量及价态分析,也可进行表面深度剖析。可应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
- 主要附件与配置
- 仪器装备有Mg/Al双阳极X射线源,Al靶单色化的X射线源,电子枪,离子枪,电荷中和系统,XYZq四维方向运动带变温样品台(-150℃~600℃),CCD成像系统等。